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场发射透射电子显微镜
发布日期:2010-03-03浏览次数:字号:[ ]
仪器名称  场发射透射电子显微镜  
仪器型号  Tecnai G2 F30 S-TWIN
制造厂商  美国FEI公司
添置时间  2009-07-01
浏览次数  
联 系 人  林老师、李老师、魏老师
联系方式  0514-87979383-117 / 121,13665208093
仪器功能及附件:

 

  

    附件: 1) 超薄切片机,Lica公司;         2) EAGLE CCD相机,美国FEI公司

                 3) Gatan 626冷冻传输杆,美国Gatan公司;        4) 离子减薄系统一套,美国Gatan公司

                 5) 三维重构软件一套;        6) EDXA能谱一台,美国EDXA公司

 

应用范围:

 

 

  

主要技术指标:    最高放大倍数TEM 100万倍;STEM 230万倍;   最高加速电压:300kV    

 

    点分辨率:0.20nm;    线分辨率0.102nm;        STEM HAADF分辨率0.17nm

工作模式:明场像、暗场像、衍射像和 STEM像
场发射透射电镜可对纳米超微粉末、生物&橡胶超薄切片、金属&陶瓷减薄样等各种材料进行观察和分析研究。 场发射透射电镜对材料样品的晶体结构,原子排列等有很重要的意义。超薄切片机可以用于生物和橡胶样品的超薄切片,以便于透射电镜观察。离子减薄系统用于金属和陶瓷样品的减薄,以便于透射电镜观察。冷冻传输杆可以用于含水样品以及胶束样品的透射电镜观察。场发射透射电镜已广泛地应用于物理、化学、材料、生物、医学等学科以及冶金、陶瓷、电子、半导体等工业,具有广泛的应用前景。



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