5月16-17日，第二届华东联校分析测试研讨会在扬州举行。扬州大学实验室与设备管理处魏万红处长出席会议并致辞。

　　会上，来自南京大学的董林教授、浙江大学的朱岩教授、上海交通大学的金承钰副研究员、美国加州大学的郑建国教授、中国科技大学的赵智副教授、扬州大学的王赪胤教授、浙江大学的李吉学教授、东华大学的刘晓云副教授、南京大学的高飞副教授等9位专家分别作了专题报告。另外，38位技术人员围绕所负责的技术作了经验交流和科研应用的学术报告。会场技术研讨气氛浓厚，提问积极。

　　本次会议由华东联校分析测试研讨会筹备委员会主办，我校测试中心承办。来自上海、安徽、浙江、江苏、湖北等33所高校测试中心的120余名代表参加了本次会议。