仪器型号

Xeuss 3.0 C

制造厂商

法国Xenocs(赛诺普)公司

添置时间

2024年

联系人

方老师

联系方式

0514-87588691

主要技术指标：新一代全自动(掠入射)小角/广角超小角X射线散射仪，可以在透射或掠入射(GI-)模式下进行小角/广角X射线散射(SAXS/WAXS)测试以及超小角(USAXS)测试，获取各类样品的颗粒大小分布、形状和形态学、周期性结构、孔隙率与多孔结构、相分离现象、结晶度、界面性质、薄膜厚度及分层全面的结构信息。掠入射角:Omega 轴自动旋转范围不低于-3°~ +5°，精度不低于 0.002°，可自动扫描样品分析不同位置的结构变化，分辨率 ≤ 200 μm，变温温度范围: -150~350 ℃，精度:0.1℃,可进行 GISAXS/GIWAXS变温测试(需搭配掠入射台子)

应用范围：广泛用于研究物质纳米至微米级结构的两种重要结构表征技术，主要应用于太阳能电池、半导体光电器件等领域。SAXS可解决块状样品的结构问题和专注于薄膜表面结构。利用X射线散射原理来获取物质内部结构信息，通过分析散射图案可以推断出样品的内部结构信息。

详细介绍及预约：https://tzhglxt.yzu.edu.cn/HomePage